一、型号:Helios G4 UC
二、制造商:Thermo Fisher Scientific
三、技术指标
1、在最佳工作距离的分辨率:
≤0.6 nm @ 15 kV(二次电子成像分辨率)
≤0.7 nm @ 1 kV(二次电子成像分辨率)
在双束交叉点的分辨率:
≤0.6 nm @ 15 kV(二次电子成像分辨率)
≤1.2 nm @ 1 kV(二次电子成像分辨率)
2、电子束着陆电压:20 V ~ 30 kV;
3、离子束加速电压:500 V ~ 30 kV;
4、离子束束流强度:0.1 pA ~ 60 nA;
5、离子束分辨率:2.5 nm @ 30 kV(使用选边平均值法测量)≤4.0 nm @ 30 kV(利用多变平均法测量)
四、配置情况
1、 沉积及刻蚀辅助材料: Pt、Au、W等;
2、 配备有纳米机械操纵系统;
3、 配备电子束曝光系统;
4、 配备拉曼光谱仪、EDS能谱仪;
五、主要功能
1、 二次电子、背散射电子以及镓离子成像;
2、 三维重构和数据分析;
3、 TEM样品的制备;
4、 半导体元器件、集成电路的修补和失效分析;
5、 EDS能谱分析(点、线、面)。
六、应用范围
用于半导体、材料、生物学、物理学、化学化工、地质学、等领域。