一、型号：Talos F200X

二、制造商：Thermo Fisher Scientific

三、技术指标

1、 TEM模式的点分辨率：优于0.25 nm (200 kV)；

2、 STEM HAADF点分辨率：优于0.16 nm (200 kV)；

3、 TEM放大倍数范围25× - 1.5M×；

4、 STEM放大倍数范围310× - 330M×；

5、 极靴间距不小于 5 mm。

四、配置情况

1、 具备高角度环形暗场（HAADF）、环形明场（ABF）等；

2、 具备Super X能谱仪系统；

3、 配备三维重构样品杆和软件，采集TEM/STEM/EDS 三维图像。

五、主要功能

1、 STEM模式和TEM模式能够对材料结构进行高分辨表征和分析。

2、 可对无机材料进行形貌和成分三维重构。

3、 可对无机材料进行常规的形貌、成分、衍射分析。

4、 电镜原位实验：选择特定设计的样品台进行多种原位动态实验，包括加热、低温、通电、通液体、电化学、力学、光学的原位测试。

六、应用范围

Talos F200X的STEM模式和TEM模式适用于对无机/y有机材料结构进行形貌、成分、衍射和高分辨表征和分析。用于材料、生物学、化学化工、半导体、地质学、物理学等领域。